產(chǎn)品資料
日本napson熱電接觸式PN判斷器
產(chǎn)品名稱(chēng): 日本napson熱電接觸式PN判斷器
產(chǎn)品型號(hào): PN-12α
產(chǎn)品特點(diǎn): 日本napson熱電接觸式PN判斷器產(chǎn)品特點(diǎn)通過(guò)接觸筆式探頭（熱/冷探頭集成類(lèi)型）確定樣品的導(dǎo)電類(lèi)型（PN）兼容單晶硅晶圓，塊狀和錠狀*對(duì)于難以使用集成探頭判斷的樣品，您還可以選擇熱/冷探頭/單獨(dú)類(lèi)型。
日本napson熱電接觸式PN判斷器 的詳細(xì)介紹
日本napson熱電接觸式PN判斷器
PN判斷
- PN-12α
- PN-50α
- PN-8LP
- PN-100BI
熱電接觸式PN判斷器
產(chǎn)品名稱(chēng)：PN-12α
產(chǎn)品圖片（可根據(jù)客戶(hù)要求進(jìn)行各種定制）
產(chǎn)品特點(diǎn)
通過(guò)接觸筆式探頭（熱/冷探頭集成類(lèi)型）確定樣品的導(dǎo)電類(lèi)型（PN）
兼容單晶硅晶圓，塊狀和錠狀
*對(duì)于難以使用集成探頭判斷的樣品，您還可以選擇熱/冷探頭/單獨(dú)類(lèi)型。
測(cè)量規(guī)格
測(cè)量目標(biāo)
與半導(dǎo)體/太陽(yáng)能電池相關(guān)的材料（硅，多晶硅，SiC等）
測(cè)量尺寸
30x30mm以上
測(cè)量范圍
可以通過(guò)PN確定的樣品電阻范圍：大約1 m至20kΩ·cm
*對(duì)于多晶硅，帶有薄膜的晶片，具有鏡面或氧化表面的樣品等，尚不確定。
PN判斷
- PN-12α
- PN-50α
- PN-8LP
- PN-100BI
熱電接觸式PN判斷器
產(chǎn)品名稱(chēng)：PN-12α
產(chǎn)品圖片（可根據(jù)客戶(hù)要求進(jìn)行各種定制）
產(chǎn)品特點(diǎn)
通過(guò)接觸筆式探頭（熱/冷探頭集成類(lèi)型）確定樣品的導(dǎo)電類(lèi)型（PN）
兼容單晶硅晶圓，塊狀和錠狀
*對(duì)于難以使用集成探頭判斷的樣品，您還可以選擇熱/冷探頭/單獨(dú)類(lèi)型。
測(cè)量規(guī)格
測(cè)量目標(biāo)
與半導(dǎo)體/太陽(yáng)能電池相關(guān)的材料（硅，多晶硅，SiC等）
測(cè)量尺寸
30x30mm以上
測(cè)量范圍
可以通過(guò)PN確定的樣品電阻范圍：大約1 m至20kΩ·cm
*對(duì)于多晶硅，帶有薄膜的晶片，具有鏡面或氧化表面的樣品等，尚不確定。
日本napson熱電接觸式PN判斷器
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